Analüütilised seadmed

Röntgenfotoelektronspektroskoopid

Röntgenfotoelektronspektroskoopid

Kirjeldus

Röntgenfotoelektronspektroskoopia (XPS) on kvantitatiivne spektroskoopiline tehnika, mis mõõdab uuritava materjali pinna (1-10nm sügavuselt) elemendilist koostist, empiirilist keemilist valemit, keemilist olekut ja elektronide seisundit. XPS  spekter saadakse uuritava aine kiiritamisel röntgenkiirgusega, mõõtes samaaegselt ainest lahkuvate elektronide kineetilist energiat ning loendades nende arvu. Silmapaistev sooritus, madalad ülalpidamiskulud, suurem kasutamise lihtsus ning kompaktne suurus teevad K-Alpha XPS süsteemist ideaalse seadme, eriti kui sellega töötab rohkem inimesi.

Tüübid

add-ons and accessoriesx-ray photoelectron spectrometers
E-pood

By continuing to use the site, you agree to the use of cookies. more information

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close