Röntgendifraktomeeterid
Kirjeldus
Röntgendifraktsioon (XRD) põhineb röntgenkiirguse omadusel käituda samaaegselt laine ja aine osakestena, mille tulemusena saadakse infot kristalliliste materjalide struktuuri kohta. Selle mitmekülgse ja mitte destruktiivse tehnika põhiline kasutusala on ühendite identifitseerimine ning kirjeldamine vastavalt nende difraktsiooni mustritele. XRD analüüsid pakuvad kvaliteetseid uurimisandmeid näiteks kemikaalide, farmaatsiatoodete, polümeeride, semikonduktorite, õhukeste filmide, metallide ja mineraalide tööstuses ja uurimisel.
Tüübid
X-ray diffraction spectrometers
